Колесников Вячеслав Михайлович
Устройство определения поляризационных параметров излучения полупроводникового лазера
Номер патента: 10017
Опубликовано: 30.12.2007
Авторы: Колесников Вячеслав Михайлович, Манак Иван Степанович, Буйкевич Александр Георгиевич
МПК: G01J 4/00
Метки: устройство, поляризационных, определения, параметров, излучения, полупроводникового, лазера
Текст:
...1 показана общая схема устройства измерения поляризационных характеристик излучения полупроводникового лазера. Излучение полупроводникового лазера 1 передается объективом-анаморфотом 2, исправляющим астигматизм в структуре исходного пучка излучения, в коллиматорный объектив 3,расширяющий и коллимирующий излучение до размеров, позволяющих обеспечить устойчивую работу поляризационного блока 4, особенностью которого является то, что в...
Устройство интерференционного контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин
Номер патента: 5616
Опубликовано: 30.12.2003
Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Матюшков Владимир Егорович, Чухлиб Владимир Иванович, Колесников Вячеслав Михайлович, Самохвалов Валерий Константинович
МПК: G01B 11/30, G01B 11/24
Метки: интерференционного, пластин, устройство, контроля, геометрических, параметров, полупроводниковых
Текст:
...- упрощение конструкции устройства Суть изобретения поясняется чертежом, где изображена оптическая схема предложенного устройства. Устройство содержит инжекционный полупроводниковый лазер 1 с широкой диаграммой направленности излучения, подключенный к источнику тока накачки 2, четвертьволновую пластину 3, первый объектив 4 для освещения в параллельном ходе лучей контролируемого объекта 11, расположенного перпендикулярно оптической оси...