Патенты с меткой «толщины»

Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта из электропроводящего магнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 18254

Опубликовано: 30.06.2014

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: также, толщины, проницаемости, частности, контроля, способ, магнитных, электропроводящего, удельной, свойств, магнитной, электропроводности, дефектности, магнитоимпульсного, материала, объекта, магнитного, электрических

Текст:

...поля, сканируют магнитный носитель считывающим устройством вдоль линии замера, находят распределение указанного электрического напряжения с несколькими его максимумами вдоль координаты , создают визуальную растровую картину этого распределения, а затем определяют искомые свойства контролируемого объекта путем сравнения заданных максимумов указанного распределения или всего распределения в целом в растровой либо цифровой форме с...

Способ магнитоимпульсного контроля электрических и магнитных свойств, в частности, удельной электропроводности и магнитной проницаемости , дефектности, а также толщины объекта сложной формы из электропроводящего магнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 18253

Опубликовано: 30.06.2014

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/72

Метки: дефектности, объекта, материала, также, электропроводящего, магнитной, свойств, контроля, сложной, магнитных, электрических, способ, магнитоимпульсного, электропроводности, магнитного, частности, толщины, удельной, проницаемости, формы

Текст:

...импульсов магнитного поля различной полярности, уменьшая амплитуду магнитного поля от импульса к импульсу, сканируют магнитный носитель считывающим устройством и измеряют величину электрического напряжения на его выходе, пропорциональную величине напряженности записанного носителем остаточного магнитного поля поверхности объекта, подбирают и записывают параметры воздействующего магнитного поля, обеспечивающие максимальную разницу величин...

Устройство для измерения толщины оптической детали

Загрузка...

Номер патента: U 9392

Опубликовано: 30.08.2013

Автор: Яничкин Валентин Викторович

МПК: G01B 11/06

Метки: измерения, детали, оптической, устройство, толщины

Текст:

...отличия светоделитель и объектив выполнены в виде одного или нескольких голограммных элементов, периферийная часть которых выполнена в виде голограммной линзы, зарегистрированной, например, при интерференции расходящейся и сходящейся волн и формирующей сходящийся пучок лучей, а центральная часть выполнена в виде дифракционной решетки, зарегистрированной,например, при интерференции двух плоских волн и установленной в фокусе отраженного от...

Устройство для определения толщины ферромагнитного покрытия на немагнитной или слабомагнитной основе

Загрузка...

Номер патента: 17237

Опубликовано: 30.06.2013

Автор: Ярмолович Вячеслав Алексеевич

МПК: G01B 7/06, G01N 27/72

Метки: ферромагнитного, определения, основе, или, покрытия, устройство, немагнитной, слабомагнитной, толщины

Текст:

...выполнен в виде цилиндрического кольца, внутри которого по его оси симметрии с радиальным зазором размещен цилиндрический магнитомягкий стержень, высота которого равна высоте указанного кольца, а датчик Холла установлен на тонкой немагнитной планке, выполненной с возможностью радиального перемещения между осью стержня и магнитом и связанной с датчиком перемещения,установленным в измерительном преобразователе и соединенным выходом с блоком...

Устройство для измерения толщины изделия

Загрузка...

Номер патента: 17290

Опубликовано: 30.06.2013

Автор: Ярмолович Вячеслав Алексеевич

МПК: G01B 7/06

Метки: устройство, изделия, измерения, толщины

Текст:

...содержит микроконтроллер с аналогоцифровым преобразователем, подключенным к микропроцессору с клавиатурой, подключенному к измерительному прибору, и блок постоянного напряжения установленные в корпусе устройства вал для размещения контролируемого изделия, рычаг, выполненный с возможностью поворота относительно вертикали с опорными роликами на конце, располагаемыми на контролируемом изделии, аналоговый преобразователь изменения положения...

Устройство для контроля толщины наносимого вакуумного покрытия

Загрузка...

Номер патента: U 8619

Опубликовано: 30.10.2012

Авторы: Пилько Владимир Владимирович, Комаров Фадей Фадеевич

МПК: B81C 1/00, G01B 7/06

Метки: устройство, покрытия, наносимого, толщины, вакуумного, контроля

Текст:

...пластины и сопротивление переменного резистора пропорциональны толщине наносимого вакуумного покрытия. В результате применения устройства становится возможным контроль толщины вакуумных покрытий от 0,1 до 5 мкм. Сущность полезной модели поясняется фигурой. Устройство включает рабочую камеру 1 с герметичным разъемом 2, размещенные в камере источник осаждаемого материала 3, источник света 4, экран из непрозрачного материала с отверстием 5,...

Датчик для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 8343

Опубликовано: 30.06.2012

Авторы: Гнутенко Егор Владимирович, Протасеня Татьяна Анатольевна, Крень Александр Петрович, Рудницкий Валерий Аркадьевич

МПК: G01B 7/06

Метки: измерения, датчик, покрытий, толщины, немагнитных, ферромагнитном, основании

Текст:

...толщине покрытия. Недостатками устройства являются низкие чувствительность и точность. Технической задачей полезной модели является повышение чувствительности и точности. Сущность полезной модели заключается в том, что она содержит стержневой постоянный магнит со сферическими наконечниками, корпус, содержащий встречно включенные катушки индуктивности, охватывающие постоянный магнит и имеющие возможность совершать колебания вдоль его...

Способ магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: 16057

Опубликовано: 30.06.2012

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: толщины, слоя, изделия, ферромагнитного, поверхностно-упрочненного, магнитного, способ, контроля

Текст:

...и в сравнении с предварительно измеренными значениями максимального магнитного потока Фэ и остаточного магнитного потока Фэ эталонного изделия из числа контролируемых, у которого отсутствует упрочненный слой,обеспечивает высокую чувствительность суммы (Фэ - Ф)/Ф(Ф - Фэ)/Ф относительных изменений максимального и остаточного магнитных потоков к толщине поверхностно-упрочненного слоя контролируемого изделия в широком диапазоне его изменения. На...

Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на магнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 8141

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ярмолович Вячеслав Алексеевич, Анищик Виктор Михайлович

МПК: G01B 7/06, G01R 33/12, G01N 27/72...

Метки: устройство, магнитном, покрытий, толщины, измерения, основании, немагнитных

Текст:

...состоящий из немагнитного корпуса, в котором размещены постоянный магнит, а также термистор, сенсор Холла и катушка с витками,электрически подсоединенные к измерительному прибору. Оно отличается тем, что постоянный магнит выполнен из материала с высокой удельной магнитной энергией в форме кольца, в котором по оси симметрии размещен цилиндрический сердечник из армко-железа с заостренным наконечником, выполненным в форме усеченного конуса с...

Устройство для контроля толщины покрытий и остаточной намагниченности

Загрузка...

Номер патента: U 8112

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Шарандо Владимир Иванович, Чурило Василий Романович

МПК: G01R 33/02

Метки: устройство, остаточной, покрытий, контроля, толщины, намагниченности

Текст:

...Их совместная обработка позволяет получить зависимости от новых контролируемых параметров, компенсировать влияние мешающих факторов, что расширяет функциональные возможности устройства. На фиг. 1 показана схема устройства для контроля толщины покрытий и остаточной намагниченности. На фиг. 2 изображена зависимость величины сигнала размещенной на наконечнике катушки 1 (относительные единицы) от коэрцитивной силыи толщины покрытиядля его...

Устройство для магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия с большим размагничивающим фактором

Загрузка...

Номер патента: U 7855

Опубликовано: 30.12.2011

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: изделия, магнитного, устройство, контроля, размагничивающим, большим, ферромагнитного, толщины, поверхностно-упрочненного, слоя, фактором

Текст:

...контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия с большим размагничивающим фактором за счет того, что значительная часть силовых линий магнитного поля намагничивающей катушки вне ее рабочей области замыкается через окружающий ее экран, а внешние электромагнитные поля ослабляются обоими экранами, что уменьшает влияние намагничивающей катушки на величину остаточного магнитного потока контролируемого изделия и...

Устройство для измерения толщины немагнитных покрытий на ферромагнитном основании

Загрузка...

Номер патента: U 7830

Опубликовано: 30.12.2011

Авторы: Гнутенко Егор Владимирович, Протасеня Татьяна Анатольевна, Рудницкий Валерий Аркадьевич, Крень Александр Петрович

МПК: G01B 7/06

Метки: устройство, измерения, немагнитных, покрытий, толщины, ферромагнитном, основании

Текст:

...контактной жесткости стыкового соединения балки,образованной стержнем и магнитом, с ферромагнитным изделием, от продольной силы магнитного притяжения, которая обратно пропорциональна толщине немагнитного покрытия. Недостатками устройства являются низкие точность и воспроизводимость измерений,связанные с наличием субъективной оценки величины требуемого поджатия при перемещении штатива, необходимость использования номограмм, а также...

Сварное точечное соединение деталей неравной толщины

Загрузка...

Номер патента: U 7328

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Цумарев Юрий Алексеевич, Емельянов Светозар Николаевич, Катькало Александр Анатольевич, Цумарев Евгений Николаевич, Попковский Виктор Александрович

МПК: B23K 11/10

Метки: неравной, соединение, точечное, деталей, сварное, толщины

Текст:

...Благодаря тому что рельеф выполнен в виде сквозного отверстия в более тонкой из соединяемых деталей, а также благодаря тому что ось сварной точки совпадает с осью сквозного отверстия, в процессе сварки уменьшается теплоотвод в более тонкую деталь. Это способствует смещению литого ядра сварной точки в более тонкую деталь и формированию сварного соединения с оптимальными геометрическими размерами. В конечном итоге это способствует...

Способ определения толщины слоя полимера на подложке

Загрузка...

Номер патента: 14575

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Никоненко Наталия Анатольевна, Третинников Олег Николаевич

МПК: G01B 11/06

Метки: полимера, подложке, слоя, определения, способ, толщины

Текст:

...собой ПЭТ-подложку с нанесенным на нее тонким слоем ПС. Для 2 14575 1 2011.06.30 наглядности спектры смещены друг относительно друга по оси ординат. Звездочкойотмечены полосы поглощения ПЭТ-подложки. Предлагаемый способ состоит в следующем. Интенсивность полосы поглощения образца в его ИК-спектре НПВО описывается соотношением 521 где 0 - амплитуда падающего света- угол отражения 212/1 - отношение показателей преломления образца и...

Способ электромагнитного контроля распределения величины удельной электропроводности в изделии из известного электропроводящего материала, а также его толщины и параметров дефектов в нем

Загрузка...

Номер патента: 14145

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: нем, величины, контроля, способ, дефектов, удельной, распределения, изделии, электропроводности, материала, электромагнитного, известного, также, электропроводящего, толщины, параметров

Текст:

...временамслоям изделия толщиной раз. Кроме того, воздействуют импульсом, определяемым соотношением (5) и с наибольшей точностью определяют разнотолщинность изделия по величине напряженности магнитного поляв разных точках поверхности изделия в соответствии с зависимостью (1). Так, если толщина материала данного участка изделия меньше, чем толщина остального изделия, то и величина , соответствующая величинепред, также будет меньше. Принцип...

Устройство для интерферометрического контроля толщины тонких покрытий оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: U 7258

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Ропот Алексей Петрович, Васильев Руслан Юрьевич, Ропот Петр Иосифович, Шепелевич Василий Васильевич, Горбач Елена Анатольевна

МПК: G01B 11/06

Метки: элементов, интерферометрического, покрытий, оптических, устройство, контроля, тонких, толщины

Текст:

...крайне сложно. Влияние вибраций можно существенно снизить, выполнив ряд условий. Для этого в первую очередь следует подобрать период интерференционной картины , намного больший средней амплитуды вибраций производственных машин (А), т.е. . Далее, для устранения влияния низкочастотной составляющей при регистрации интерференционной картиныкамерой следует выбрать малое время экспозиции , так чтобы 1/, где- частота основной высокочастотной...

Устройство для магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: U 7129

Опубликовано: 30.04.2011

Автор: Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/72

Метки: изделия, поверхностно-упрочненного, магнитного, ферромагнитного, толщины, контроля, слоя, устройство

Текст:

...магнитного потока Ф 0 эталонного изделия из числа контролируемых, у которого отсутствует упрочненный слой, обеспечивает высокую чувствительность информационного параметра, определяемого по алгоритму (Ф - Ф 0)/Ф(Ф 0 - Ф)/Ф, к толщине поверхностно-упрочненного слоя контролируемого изделия в широком диапазоне его изменения. На фиг. 1 представлена функциональная схема полезной модели по заявке. На фиг. 2 представлены зависимости измеряемого...

Устройство для измерения толщины уха и лапы лабораторного животного

Загрузка...

Номер патента: U 7084

Опубликовано: 28.02.2011

Авторы: Ушков Сергей Александрович, Эрм Галина Ивановна, Шевляков Виталий Васильевич

МПК: A61D 99/00, G01B 3/00

Метки: толщины, измерения, устройство, лабораторного, уха, лапы, животного

Текст:

...соответствующей стандартной для эпикутанных алллергологических проб, и стабильного низкого измерительного усилия пружинного механизма обратного хода измерительного стержня (1,5 ) упрощение и объективизация регистрации результатов измерения за счет считывания информации по стрелке индикатора на циферблатных шкалах устройства и возможности быстрой проверки и корректировки постоянства показаний установкой нулевого значения на шкалах ускорение...

Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем

Загрузка...

Номер патента: 13918

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Дорошевич Елена Сергеевна, Павлюченко Владимир Васильевич

МПК: G01N 27/72

Метки: толщины, также, изделия, параметров, контроля, электропроводящего, нем, электропроводности, устройство, материала, дефектов

Текст:

...набора линейных токопроводов и кольцевого соленоида с регулируемыми положениями и ориентацией в пространстве. Устройство для контроля электропроводности и толщины изделия из электропроводящего материала, а также параметров дефектов в нем содержит прибор для измерения параметров импульсов тока источника первичного магнитного поля с визуальным экраном с послесвечением. Датчики Холла снабжены светодиодами. Сущность изобретения...

Способ магнитного контроля дефектности, толщины, формы и электрических свойств изделия из электропроводящего материала

Загрузка...

Номер патента: 13905

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитного, электропроводящего, электрических, контроля, изделия, толщины, способ, материала, формы, дефектности, свойств

Текст:

...или выполнении условий их ограничения. В качестве эталонных изображений используют предварительно созданные изображения распределений нормальной составляющей напряженности магнитного поля для неидеальных объектов с заданной величиной и распределением удельной электропроводности, с разной толщиной и разными распределениями дефектов. Измерение величины нормальной составляющей напряженности магнитного поля осуществляют при различных...

Способ магнитного контроля толщины поверхностно-упрочненного слоя протяженного ферромагнитного изделия

Загрузка...

Номер патента: 12437

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Синякович Эдуард Брониславович, Сандомирский Сергей Григорьевич

МПК: G01N 27/72

Метки: толщины, протяженного, ферромагнитного, слоя, изделия, поверхностно-упрочненного, магнитного, способ, контроля

Текст:

...от толщиныповерхностного слоя в форме полого цилиндра из материала с Н - 590 А/м (кривые 1/ и 2/) и с Н 1700 А/м (кривые 1 и 2) представлены на фиг. 1. Образцы изготовлены из стали ШХ 15 с различной микроструктурой. Кривыми 1 Р и 2 Р обозначены разности соответственно между зависимостями 1 и 1/ и зависимостями 2 и 2/. 12437 1 2009.10.30 Как показали эксперименты, при постоянстве длины изделий увеличение их диаметра при постоянстве магнитных...

Способ магнитного контроля толщины слоев двухслойного хромоникелевого покрытия

Загрузка...

Номер патента: 12443

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Лукьянов Андрей Леонтьевич, Лухвич Александр Александрович, Булатов Олег Владимирович

МПК: G01N 27/72, G01B 7/02

Метки: слоев, хромоникелевого, двухслойного, покрытия, толщины, контроля, магнитного, способ

Текст:

...насыщения усиливается информативный сигнал, что повышает чувствительность к измеряемой толщине, а также практически полностью устраняется влияние на точность контроля структуры никеля и его внутренних напряжений. При повторном намагничивании никеля до состояния ниже магнитного насыщения информативный сигнал в некоторой степени зависит от толщины и свойств никеля, однако они учитываются при градуировке. Результат повторного измерения не...

Устройство измерения толщины центрированных линз

Загрузка...

Номер патента: U 5595

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Кравченко Виктор Андреевич, Есипович Борис Алексеевич, Фишкин Леонид Калмонович, Балабанович Виктор Александрович

МПК: G01B 5/00

Метки: измерения, центрированных, линз, устройство, толщины

Текст:

...квалификации оператора, так как отсчет производится визуально (то есть носит субъективный характер) кроме этого, при установке линзы на неподвижный стержень и ее ручной центрировке происходит повреждение покрытия рабочей поверхности линзы, что приводит к браку. Задачей полезной модели является повышение точности и производительности измерения, а также повышение выхода годных деталей. Поставленная задача достигается тем,что устройство для...

Магнитоимпульсный способ контроля электрических и магнитных свойств и наличия дефектов сплошности изделия из электропроводящего магнитного материала, а также его толщины

Загрузка...

Номер патента: 12173

Опубликовано: 30.08.2009

Авторы: Павлюченко Владимир Васильевич, Сычик Василий Андреевич, Дорошевич Елена Сергеевна

МПК: G01N 27/72

Метки: магнитных, наличия, магнитоимпульсный, электрических, свойств, способ, сплошности, также, материала, магнитного, контроля, изделия, электропроводящего, дефектов, толщины

Текст:

...поля 1 на поверхности изделия, записывают рассчитанную зависимость 1 на элементы памяти, после чего, используя импульс 1, воздействуют импульсом магнитного поля на изделие и датчик, измеряют интегральным датчиком магнитного поля,состоящим из матрицы локальных датчиков, например датчиков Холла, временную зависимость суммарного для всех датчиков матрицы сигнала от времени 2, нормированную по амплитуде с сигналом 1, сравнивают зависимость...

Устройство для измерения толщины уха и лапы лабораторного животного

Загрузка...

Номер патента: U 5041

Опубликовано: 28.02.2009

Авторы: Шевляков Василий Витальевич, Шевляков Виталий Васильевич, Эрм Галина Ивановна, Ушков Сергей Александрович

МПК: A61D 17/00

Метки: животного, толщины, лабораторного, измерения, уха, устройство, лапы

Текст:

...и корректировки постоянства показаний установкой нулевого значения на шкале 3. Общим признаком для заявляемого устройства и прототипа является наличие индикатора часового типа, который имеет измерительный стержень, прямолинейное возвратно 2 50412009.02.28 поступательное движение которого по направляющим цилиндрам переводится внутренним механизмом во вращательное, передающееся на стрелочные индикаторы. Недостатком данного устройства...

Устройство для контроля толщины слабомагнитного слоя под немагнитным

Загрузка...

Номер патента: U 4752

Опубликовано: 30.10.2008

Авторы: Лукьянов Андрей Леонтьевич, Булатов Олег Владимирович, Лухвич Александр Александрович

МПК: G01B 7/00

Метки: слабомагнитного, толщины, слоя, контроля, устройство, немагнитным

Текст:

...указано направление намагниченности стержневого магнита 2. Работа полезной модели состоит в следующем. Преобразователь (фиг. 1), состоящий из позиций 1-5, устанавливают на заданный участок поверхности контролируемого покрытия, затем отрывают и удаляют от нее на некоторое расстояние. Характеристики преобразователя (в частности, высококоэрцитивный неодим-железо-бор, из которого изготовлен стержневой магнит 2, его увеличенный в несколько раз...

Устройство для раздельного магнитного контроля толщины двухслойных покрытий

Загрузка...

Номер патента: U 4635

Опубликовано: 30.08.2008

Авторы: Лухвич Александр Александрович, Булатов Олег Владимирович, Лукьянов Андрей Леонтьевич, Шукевич Анатолий Куприянович

МПК: G01R 33/02

Метки: контроля, раздельного, двухслойных, устройство, покрытий, магнитного, толщины

Текст:

...а две последние практически равны единице. На фиг. 1 показана схема устройства для раздельного магнитного контроля толщины двухслойных покрытий. На фиг. 2 изображена градуировочная зависимость в виде сетки, построенной по результатам расчетов информативных сигналов, соответствующих моделям дисков одинакового диаметра, различающихся по толщине никелевого основания и толщине хромового покрытия. 2 46352008.08.30 Полезная модель (фиг. 1) содержит...

Способ контроля толщины и твердости поверхностно-упрочненного слоя изделия из ферромагнитного материала

Загрузка...

Номер патента: 10698

Опубликовано: 30.06.2008

Авторы: Мельгуй Михаил Александрович, Матюк Владимир Федорович, Пинчуков Дмитрий Анатольевич

МПК: G01B 7/02, G01N 27/80, G01N 27/72...

Метки: толщины, способ, контроля, ферромагнитного, материала, слоя, изделия, твердости, поверхностно-упрочненного

Текст:

...серией, а толщинуупрочненного слоя и твердостьего поверхности определяют по уравнениям множественной корреляции типа(2)01230456 ,где числоимпульсов в четвертой серии и коэффициенты а 0, а 1, а 2, а 3, а 4, 5, 6 и 0, 1, 2,3, 4, 5, 6 установлены предварительно из условия получения минимальных среднеквадратических отклоненийи максимальных коэффициентов корреляции . На фиг. 1 показана последовательность изменения амплитуды импульсов...

Способ импульсного магнитного контроля толщины изделий из ферромагнитных материалов при одностороннем доступе к изделию

Загрузка...

Номер патента: 9480

Опубликовано: 30.06.2007

Авторы: Мельгуй Михаил Александрович, Матюк Владимир Федорович

МПК: G01B 7/02

Метки: доступе, способ, контроля, изделий, импульсного, материалов, магнитного, одностороннем, изделию, толщины, ферромагнитных

Текст:

...направление импульсов магнитно 2 9480 1 2007.06.30 го поля на противоположное и перемагничивают тот же участок изделия третьей серией импульсов, амплитуду которых увеличивают от нуля, и измеряют градиент нормальной составляющей напряженности поля остаточной намагниченности после каждого импульса из третьей серии, определяют амплитуду импульса из третьей серии, после воздействия которого величина измеряемого градиента равна или близка к...

Способ магнитного контроля толщины изделий из ферромагнитных материалов при одностороннем доступе к изделию

Загрузка...

Номер патента: 9479

Опубликовано: 30.06.2007

Авторы: Матюк Владимир Федорович, Мельгуй Михаил Александрович

МПК: G01B 7/02

Метки: толщины, контроля, доступе, изделию, способ, изделий, одностороннем, ферромагнитных, материалов, магнитного

Текст:

...импульсов противоположной полярности, амплитуду которых уменьшают от и до нуля, измеряют нормальную составляющую градиента Н 0 напряженности поля остаточной намагниченности после окончания четвертой серии импульсов, и по разности измеренных величинНг - 0 судят о толщине ферромагнитного изделия. Числоимпульсов противоположной полярности выбирают, исходя из условия максимальной чувствительности величинык изменению толщины контролируемого...

Устройство для бесконтактного измерения толщины пластин

Загрузка...

Номер патента: U 3298

Опубликовано: 28.02.2007

Авторы: Корнелюк Александр Иванович, Самохвалов Валерий Константинович, Чухлиб Владимир Иванович

МПК: G01B 11/06

Метки: пластин, устройство, измерения, бесконтактного, толщины

Текст:

...и повышение точности измерений толщины при наличии шероховатых поверхностей измеряемых пластин.Поставленная задача достигается тем, что устройство для бесконтактного измерения толщины пластин выполнено в виде двух идентичных детектирующих головок, подключенных к электронному блоку и расположенных по обе стороны измеряемой пластины,закрепленной в держателе, каждая из которых содержит первый объектив, оптически связанный системой зеркал с...

Устройство для контроля толщины поверхностно-упрочненных слоев ферромагнитных изделий

Загрузка...

Номер патента: U 1880

Опубликовано: 30.03.2005

Авторы: Матюк Владимир Федорович, Осипов Александр Александрович

МПК: G01N 27/80, G01B 7/06

Метки: поверхностно-упрочненных, контроля, ферромагнитных, устройство, изделий, толщины, слоев

Текст:

...при этом выходы блока выборки-хранения через блок вычитания и блок определения среднего значения подсоединены ко входам блока деления и через него к индикатору.Недостатком данного устройства является низкая чувствительность и высокая погрешность при контроле изделий с малой толщиной упрочненного слоя.Сущность устройства заключается в том, что с целью обеспечения большей чувствительности и достоверности неразрушающего контроля, оно содержит...

Способ определения толщины полимерного покрытия на резино-технических изделиях

Загрузка...

Номер патента: 5594

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Рогачев Александр Владимирович, Щебров Александр Владимирович, Саркисов Олег Армаисович, Казаченко Виктор Павлович, Егоров Александр Иванович

МПК: G01B 11/06

Метки: полимерного, покрытия, определения, способ, толщины, резино-технических, изделиях

Текст:

...равномерности нанесения покрытия на различных участках поверхности эластомера. Способ определения толщины полимерного покрытия на резинотехнических изделиях включает в себя измерение значения, зависящего от толщины покрытия характерного параметра, - краевого угла смачивания жидкостью (дистиллированной водой или глицерином) поверхности и определение толщины покрытия по известной корреляционной зависимости. На поверхность исследуемого покрытия с...

Способ контроля толщины поверхностно-упрочненных слоев ферромагнитных изделий

Загрузка...

Номер патента: 3552

Опубликовано: 30.09.2000

Авторы: Кратиров Валерий Борисович, Осипов Александр Александрович, Матюк Владимир Федорович

МПК: G01N 27/80

Метки: поверхностно-упрочненных, толщины, слоев, изделий, способ, контроля, ферромагнитных

Текст:

...контролируемого изделия на восходящеми нисходящем - участках петли гистерезиса при заданном поле Нзад., определяют их разностьи среднее значение ср., измеряют коэрцитивную силу с и по произведению коэрцитивной силы с на отношение разности намагниченностей к среднему значению намагниченности при заданном поле /ср. определяют толщину упрочненного слоя отн Способ включает в себя следующую последовательность операций перемагничивают...

Устройство для контроля толщины немагнитных покрытий на ферромагнитных основаниях

Загрузка...

Номер патента: 3429

Опубликовано: 30.06.2000

Авторы: Ревяко Сергей Анатольевич, Сандомирский Сергей Григорьевич

МПК: G01B 7/06

Метки: немагнитных, контроля, толщины, ферромагнитных, устройство, основаниях, покрытий

Текст:

...угла поворота р индикаторной магнитной стрелки заявленного устройства от толщины х немагнитного покрытия при ос 150 для 0,211 (кривая 1) и В 0,511 (кривая 2), 11 0,51. (фиг. 2 а) и для В 0,211 (кривая 1) и В 0,511 (кривая 2),11 0,251. (фиг. 26).Устройство содержит два стержневых постоянных магнита 1 и 2, магнитную стрелку 3 на оси 4. Позицией 5 обозначен немагнитный каркас, 6 - шкала для отсчета контролируемой толщины, 7 -...

Способ контроля толщины поверхностно-упрочненных слоев ферромагнитных изделий

Загрузка...

Номер патента: 3215

Опубликовано: 30.12.1999

Авторы: Осипов Александр Александрович, Матюк Владимир Федорович, Кратиров Валерий Борисович

МПК: G01N 27/80

Метки: изделий, ферромагнитных, контроля, поверхностно-упрочненных, толщины, способ, слоев

Текст:

...в том, что для решения задачи о повышении достоверности контролируемое изделие перемагничивают изменяющимся полем Н, измеряют величины намагниченности контролируемого изделия на восходящеми нисходящем - участках петли гистерезиса при заданном поле Нзад., определяют их разностьи среднее значение ср и по отношению разности к среднему значению /ср. определяют толщину упрочненного слоя отн. Способ включает в себя следующую...

Устройство для определения показателя преломления и толщины

Загрузка...

Номер патента: 2444

Опубликовано: 30.12.1998

Авторы: Черных Игорь Валентинович, Александров Сергей Александрович

МПК: G01N 21/17, G01N 21/45, G01N 21/41...

Метки: показателя, устройство, определения, толщины, преломления

Текст:

...настройки системы анализа интерференционной картины на какую-то определенную плоскость, например, плоскость изображения, как в прототипе. При этом возможна настройка на полосу бесконечной ширины, при которой используется весь световой поток, что уменьшает энергетические потери. Следовательно, использование предлагаемого технического решения позволяет устранить зависимость параметров оптической схемы устройства от длины волны используемого...