Патенты с меткой «микроскоп»

Номер патента: U 8137

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Михайлов Юрий Тимофеевич, Ракуш Владимир Валентинович, Ступкина Оксана Васильевна

МПК: G01B 9/04, G02B 21/00

Метки: микроскоп

Текст:

...фильтра, расположенного на оптической оси микроскопа между первым фильтром и матричным фотоприемником, выполнение при этом второго фильтра в виде второй плоскопараллельной пластины, имеющей пропускание вдоль нормали к ее плоскопараллельным рабочим поверхностям более или равное 0,4 в диапазоне длин волн 550-700 нм и менее 0,01 в диапазоне длин волн менее 500 нм, и выбор излучающего диода со спектральным составом излучения с коротковолновой...

Номер патента: 14816

Опубликовано: 30.10.2011

Автор: Худолей Андрей Леонидович

МПК: G01Q 10/00

Метки: системой, автоматического, слежения, сканирующий, микроскоп, зондовый, кантилевером

Текст:

...с отражающей поверхностью может механически зацепиться за неровность и/или упереться в нее. В этом случае важно предотвратить дальнейшее перемещение сканером консоли кантилевера с отражающей поверхностью, в противном случае произойдет поломка острия и/или консоли кантилевера с отражающей поверхностью. Задачей предлагаемого изобретения является повышение надежности работы сканирующего зондового микроскопа. Задача решается следующим...

Номер патента: U 7215

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Жолобов Александр Алексеевич, Логвина Екатерина Владимировна, Волченков Александр Владимирович, Логвин Владимир Александрович

МПК: G02B 21/00

Метки: инструментальный, микроскоп

Текст:

...с изменяемым цветом свечения. Дополнительная светодиодная подсветка бокового освещения с изменяемым цветом свечения имеет возможность изменять угол падения света на объект от 5 до 180. Дополнительная светодиодная подсветка бокового освещения с изменяемым цветом свечения снабжена быстросъемным креплением, что позволяет устанавливать ее для освещения объекта исследования снизу через проем в измерительном столе. Дополнительная светодиодная...

Номер патента: U 5271

Опубликовано: 30.06.2009

Авторы: Чижик Сергей Антонович, Чикунов Владислав Валентинович, Худолей Андрей Леонидович

МПК: G01N 13/10, G01N 3/56

Метки: микроскоп, сканирующий, зондовый

Текст:

...включая трибологические. Недостатком известной конструкции сканирующего зондового микроскопа является невозможность проведения ускоренных трибологических испытаний, обусловленная малыми скоростями перемещения поверхности объекта относительно зонда трехкоординатным пьезосканером сканирующего зондового микроскопа. Задачей предлагаемой полезной модели является повышение эффективности измерений сканирующего зондового микроскопа и...

Номер патента: 4416

Опубликовано: 30.03.2002

Автор: Санников Петр Алексеевич

МПК: G02B 21/18

Метки: микроскоп, сравнения, варианты

Текст:

...основной задачи и позволяет упростить конструкцию микроскопа за счет уменьшения количества устройств изменения увеличения и снижения требований к точности их изготовления. Сущность изобретения поясняется схемами, приведенными на фиг. 1-4. На фиг. 1, 2 изображены функциональные оптические схемы примеров исполнения микроскопа сравнения по первому варианту. На фиг. 3- то же по второму варианту. На фиг. 4 - схема расположения светоделительных...

Номер патента: 4264

Опубликовано: 30.12.2001

Авторы: Санников Петр Алексеевич, Стрибук Петр Васильевич

МПК: G02B 21/18

Метки: сравнения, микроскоп, варианты

Текст:

...информацию. Выполнение электродов в виде ряда штрихов, равномерно расположенных вдоль большей стороны контура прямоугольника и вдоль меньшей его стороны, а также в виде трех семисегментных знакомест, расположенных между рядами штрихов, позволяет измерять линейные размеры объектов контроля, используя светящиеся штрихи, как шкалы, цена деления которых изменяется при смене увеличения и индицируется на трех семисегментных знакоместах. При...

Номер патента: 1101

Опубликовано: 14.03.1996

Авторы: Казеев Юрий Иванович, Маслакова Нина Федоровна, Кахович Василий Васильевич, Сенько Владимир Ярославович, Санников Петр Алексеевич

МПК: G02B 21/18

Метки: сравнения, микроскоп

Текст:

...оптической оси ветвисравнения 1 установлен отражатель 5 в виде плоского зеркала или пентапризмы. Параллельно первой ветви 1 сравнения расположена вторая ветвь 6 сравнения, состоящая из тех же элементов. В фокальных плоскостях объективов 2 в обеих ветвях сравнения расположены предметные столики, соответственно 7 и 8. Микроскоп сравнения содержит также ветвь 9 наблюдения и регистрации, состоящую из объектива 10,переключающего зеркала 11,...