Стецик Виктор Михайлович

Способ определения концентрации общего гемоглобина в биологической ткани

Загрузка...

Номер патента: 18653

Опубликовано: 30.10.2014

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Лысенко Сергей Александрович, Кугейко Михаил Михайлович

МПК: G01N 21/00, A61B 5/1455

Метки: биологической, гемоглобина, способ, концентрации, общего, ткани, определения

Текст:

..., карбоксигемоглобини метгемоглобин . Исходя из анализа спектров поглощения , 2,и 6, для определения концентрации общего гемоглобинавыбраны длины волн 1524 нм,2578 нм, 3662 нм (или 3773 нм). Длина волны 2 соответствует максимуму поглощения 2 (( 2 )0,22 г/л) и в то же время является изобестической точ 2 койи 2)(2)0,14 г/л). Причем даже при низком содержании 2 в крови, равном 60 , его поглощение в 2,3 раза превосходит суммарное поглоще 4...

Способ определения абсолютной концентрации билирубина в коже человека

Загрузка...

Номер патента: 18652

Опубликовано: 30.10.2014

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Лысенко Сергей Александрович, Кугейко Михаил Михайлович

МПК: G01N 21/00, A61B 5/1455

Метки: концентрации, абсолютной, человека, способ, определения, билирубина, коже

Текст:

...всех фотонов рассчитывается функция поверхностного распределения коэффициента направленного рассеяния, где- интенсивность излучения, выходящего из элементарной площадки на расстоянииот начала координат в телесном угле 2, описанном вокруг направления- поток излучения, падающего на среду в точке 0 в направлении нормали к ее поверхности. Для канала регистрации, расположенного на расстоянииот канала возбуждения, измеряемой величиной является...

Способ определения суммарных потерь в активной области полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 17171

Опубликовано: 30.06.2013

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Ушаков Дмитрий Владимирович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: H01S 3/0941, H01S 3/08

Метки: определения, полупроводникового, способ, области, суммарных, активной, лазера, потерь

Текст:

...инв и пороговую плотность тока генерации ген полупроводникового лазера, имеет вид 1 генинв 1,п где п - коэффициент потерь в активной области лазера, -1 - коэффициент пропорциональности,1. Из приведенного выражения следует, что в идеальной по качеству активной области,коэффициент потерь которой равен нулю п 0, пороговый ток генерации ген будет равен пороговому току инверсии инв. Если качество активной области неидеально, т.е. суммарное...

Способ определения порогового тока генерации полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 16544

Опубликовано: 30.12.2012

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: H01S 3/0941, H01S 3/08

Метки: тока, порогового, полупроводникового, генерации, лазера, определения, способ

Текст:

...На фиг. 1 представлена функциональная схема, реализующая предлагаемый способ измерения порогового тока генерации полупроводникового лазера, а на фиг. 2 - временные диаграммы, поясняющие его работу. Система содержит измеряемый полупроводниковый лазер 1, блок питания лазера 2, светоделитель 3, зеркало 4, первый анализатор 5,второй анализатор 6, первый фотоприемник 7, второй фотоприемник 8, дифференциальный усилитель 9, измерительный...

Устройство контроля одномодового режима работы полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: U 7253

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Козлов Владимир Леонидович, Стецик Виктор Михайлович

МПК: H01S 3/08

Метки: контроля, устройство, лазера, полупроводникового, одномодового, режима, работы

Текст:

...на фиг. 2 представлены диаграммы, поясняющие работу устройства. Устройство содержит полупроводниковый лазер 1, блок питания лазера 2,светоделитель 3, зеркало 4, линзу 5, анализатор 6, первый фотоприемник 7, второй фотоприемник 8, дифференциальный усилитель 9, измерительный блок 10. Устройство работает следующим образом. Ток накачки перестраиваемого полупроводникового лазера 1 регулируется блоком питания лазера 2. Излучение лазера 1 с...

Оптико-акустический газоанализатор

Загрузка...

Номер патента: 13951

Опубликовано: 30.12.2010

Авторы: Горелик Александр Владимирович, Фираго Владимир Александрович, Стецик Виктор Михайлович, Никонович Федор Никифорович, Старовойтов Владимир Сергеевич, Казак Николай Станиславович

МПК: G01N 21/00

Метки: газоанализатор, оптико-акустический

Текст:

...для непрерывного впуска и выпуска исследуемой газовой среды. Каналы расположены в боковых стенках 5 камеры 2. Точки 15 отображают места соединения с внутренней полостью камеры для каждого из каналов. Каждая точка расположена вблизи точки соприкосновения между внутренней поверхностью камеры, плоскостью, задаваемой оптической осью 7 и нормалью к внутренним плоским поверхностям окна 6, и узловой поверхностью 12 акустической моды 2. Диаметр...

Способ контроля одномодового режима работы полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 12908

Опубликовано: 28.02.2010

Авторы: Постоялко Игорь Иосифович, Козлов Владимир Леонидович, Самохвалов Валерий Константинович, Стецик Виктор Михайлович

МПК: H01S 03/08

Метки: режима, работы, способ, одномодового, лазера, контроля, полупроводникового

Текст:

...точность измерения системы контроля одномодового режима работы полупроводникового лазера. Предложенный способ поясняется чертежами, где на фиг. 1 представлена функциональная схема реализации способа на фиг. 2 приведена диаграмма, поясняющая ее работу. Суть способа контроля одномодового режима работы полупроводникового лазера заключается в следующем. Определяют ток накачки лазера, при котором длину волны генерации выбирают в середине участка...

Оптическая система лазерного доплеровского измерителя

Загрузка...

Номер патента: 12531

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Козлов Владимир Леонидович, Стецик Виктор Михайлович

МПК: G01P 3/36, G01P 5/00

Метки: измерителя, оптическая, доплеровского, лазерного, система

Текст:

...грани резонатора лазера излучения, используемого в качестве опорного сигнала для фотогетеродинирования, а линза установлена так, что ее фокус расположен на задней грани резонатора для обеспечения согласования волновых фронтов отраженного от объекта излучения и опорного сигнала. На фигуре представлена функциональная схема оптической системы лазерного доплеровского измерителя. Устройство содержит полупроводниковый лазер 1, линзу 2, гетеродинный...

Оптико-акустический сенсор

Загрузка...

Номер патента: 12411

Опубликовано: 30.10.2009

Авторы: Фираго Владимир Александрович, Полонецкий Александр Леонидович, Старовойтов Владимир Сергеевич, Стецик Виктор Михайлович

МПК: G01N 21/00

Метки: сенсор, оптико-акустический

Текст:

...и мультиплексора обратно в ячейку. Свойство, появляющееся у заявляемого технического решения, - повышение чувствительности или крутизны преобразования газового сенсора за счет увеличения средней мощности излучения, проходящего через оптико-акустическую ячейку, что соответственно улучшает пороговую чувствительность определения концентрации контролируемого газового компонента. Сущность изобретения поясняют фиг. 1 и 2. На фиг. 1 приведена...

Способ определения порогового тока инверсии полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 11935

Опубликовано: 30.06.2009

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: H01S 3/0941, H01S 3/08

Метки: лазера, порогового, инверсии, определения, полупроводникового, способ, тока

Текст:

...обеспечивается согласованием спектра излучения,вводимого в активную область измеряемого лазера со спектром контура усиления активной области, за счет того, что для этого используется часть излучения, генерируемого в самой активной области. На фиг. 1 представлена функциональная схема, реализующая предлагаемый способ. Система содержит измеряемый полупроводниковый лазер 1, зеркало 2, фотоприемник 3,блок питания лазера 4, измерительный блок 5....

Способ определения изменения температуры активной области полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 11971

Опубликовано: 30.06.2009

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01J 5/00, G01K 11/00

Метки: лазера, изменения, активной, области, способ, определения, полупроводникового, температуры

Текст:

...5, где выделяется сигнал фазового рассогласования. 2 11971 1 2009.06.30 Известно, что протекание тока через активную область полупроводникового лазера вызывает повышение температуры активной области, что в свою очередь вызывает изменение длины волны (частоты) генерации лазера. Коэффициент К, определяющий величину девиации частоты излучения лазера в зависимости от температуры активной области,известен 1 и имеет значение, например, для лазерана...

Оптическая система лазерного доплеровского измерителя

Загрузка...

Номер патента: 11199

Опубликовано: 30.10.2008

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01H 9/00, G01P 3/36, G01P 5/00...

Метки: доплеровского, система, измерителя, лазерного, оптическая

Текст:

...от объекта излучения на фотоприемник, где осуществляется гетеродинное выделение доплеровского сигнала. На фигуре представлена функциональная схема оптической системы лазерного доплеровского измерителя. Устройство содержит источник лазерного излучения 1, первую линзу 2, гетеродинный фотоприемник 3, вторую линзу 4, измеряемый объект 5. Система работает следующим образом. Лазер 1 излучает оптическое излучение частотой . В качестве...

Устройство измерения девиации частоты излучения полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: U 4585

Опубликовано: 30.08.2008

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: H01S 3/08

Метки: излучения, измерения, лазера, девиации, полупроводникового, частоты, устройство

Текст:

...Сущность полезной модели поясняется с помощью фиг. 1 и фиг. 2. На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства, а на фиг. 2 - временные диаграммы, поясняющие его работу. Устройство содержит полупроводниковый лазер 1, светоделитель 2,первое неподвижное зеркало 3, второе подвижное зеркало 4, фотоприемник 5, компаратор 6, счетчик 7, вычислительный блок 8, блок перемещения зеркала 9. 2 45852008.08.30 Устройство работает следующим...

Способ измерения амплитуды и частоты вибрации

Загрузка...

Номер патента: 10240

Опубликовано: 28.02.2008

Авторы: Стецик Виктор Михайлович, Козлов Владимир Леонидович

МПК: G01H 9/00

Метки: частоты, измерения, способ, амплитуды, вибрации

Текст:

...гетеродинный фотоприемник 5,вычислительный блок 6. Система работает следующим образом. Лазер 2 излучает оптическое излучение частотой . Часть излучения отделяется светоделителем 3 и подается на гетеродинный фотоприемник 5 в качестве опорного сигнала для оптического гетеродинирования. Другая часть излучения лазера направляется к вибрирующей поверхности. В результате эффекта Доплера отраженное от вибрирующей поверхности излучение приобретает...

Приемно-передающее устройство лазерного доплеровского измерителя

Загрузка...

Номер патента: U 3886

Опубликовано: 30.10.2007

Авторы: Козлов Владимир Леонидович, Стецик Виктор Михайлович

МПК: G01P 5/00

Метки: приемно-передающее, доплеровского, лазерного, устройство, измерителя

Текст:

...достигается за счет того, что осуществляется автоматическая фокусировка второй линзы по максимуму амплитуды сигнала на выходе приемника излучения, что улучшает отношение сигнал/шум упрощение конструкции оптической схемы достигается вследствие исключения из нее зеркал кольцеобразователя и светоделительной пластины, что также значительно упрощает процесс юстировки. На фигуре представлена функциональная схема приемно-передающего устройства...

Устройство интерференционного контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин

Загрузка...

Номер патента: 5616

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Матюшков Владимир Егорович, Стецик Виктор Михайлович, Колесников Вячеслав Михайлович, Чухлиб Владимир Иванович, Самохвалов Валерий Константинович

МПК: G01B 11/30, G01B 11/24

Метки: устройство, параметров, пластин, полупроводниковых, контроля, геометрических, интерференционного

Текст:

...- упрощение конструкции устройства Суть изобретения поясняется чертежом, где изображена оптическая схема предложенного устройства. Устройство содержит инжекционный полупроводниковый лазер 1 с широкой диаграммой направленности излучения, подключенный к источнику тока накачки 2, четвертьволновую пластину 3, первый объектив 4 для освещения в параллельном ходе лучей контролируемого объекта 11, расположенного перпендикулярно оптической оси...