G02B 21/00 — Микроскопы

Светодиодное устройство освещения микроскопической техники с изменяемым спектром свечения

Загрузка...

Номер патента: U 10668

Опубликовано: 30.06.2015

Авторы: Макаренко Татьяна Викторовна, Макаренко Андрей Игоревич

МПК: G02B 21/00

Метки: освещения, микроскопической, свечения, изменяемым, техники, спектром, светодиодное, устройство

Формула / Реферат:

Светодиодное устройство освещения микроскопической техники с изменяемым спектром свечения, фиксируемое на микроскопе на месте стационарной верхней и нижней подсветки, отличающееся тем, что выполнено на основе светодиодов со светодиодными концентрирующимиСветодиодное устройство освещения микроскопической техники с изменяемым спектром свечения, фиксируемое на микроскопе на месте стационарной верхней и нижней подсветки, отличающееся тем, что...

Осветительная установка для микроскопа бинокулярного стереоскопического

Загрузка...

Номер патента: U 10705

Опубликовано: 30.06.2015

Авторы: Макаренко Андрей Игоревич, Вежновец Василий Васильевич, Макаренко Татьяна Викторовна

МПК: G02B 21/00

Метки: стереоскопического, бинокулярного, осветительная, установка, микроскопа

Формула / Реферат:

Осветительная установка для микроскопа бинокулярного стереоскопического на светодиодной основе, фиксируемая на микроскопе на месте стационарной верхней и нижней подсветки микроскопа биологического стереоскопического, отличающаяся тем, что выполнена на осОсветительная установка для микроскопа бинокулярного стереоскопического на светодиодной основе, фиксируемая на микроскопе на месте стационарной верхней и нижней подсветки микроскопа...

Прибор для измерения твердости и микротвердости

Загрузка...

Номер патента: U 8617

Опубликовано: 30.10.2012

Авторы: Волченков Александр Владимирович, Никитин Александр Викторович, Логвин Владимир Александрович, Логвина Екатерина Владимировна, Муравский Викентий Александрович

МПК: G02B 21/00, G01N 3/00

Метки: твердости, микротвердости, измерения, прибор

Текст:

...параметров поверхности, соответствие величины размеров, формы и взаимного расположения и состояние на интересующем участке поверхностей вплоть до вида структуры. Для оценки твердости или микротвердости материала производится вдавливание индентора (шар или пирамида) с определенным усилием в поверхность образца и по размерам отпечатка проводится 2 86172012.10.30 суждение о величине твердости или микротвердости. Применение видеокамеры позволяет...

Микроскоп

Загрузка...

Номер патента: U 8137

Опубликовано: 30.04.2012

Авторы: Ступкина Оксана Васильевна, Ракуш Владимир Валентинович, Михайлов Юрий Тимофеевич

МПК: G01B 9/04, G02B 21/00

Метки: микроскоп

Текст:

...фильтра, расположенного на оптической оси микроскопа между первым фильтром и матричным фотоприемником, выполнение при этом второго фильтра в виде второй плоскопараллельной пластины, имеющей пропускание вдоль нормали к ее плоскопараллельным рабочим поверхностям более или равное 0,4 в диапазоне длин волн 550-700 нм и менее 0,01 в диапазоне длин волн менее 500 нм, и выбор излучающего диода со спектральным составом излучения с коротковолновой...

Микроскоп инструментальный

Загрузка...

Номер патента: U 7215

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Волченков Александр Владимирович, Логвин Владимир Александрович, Логвина Екатерина Владимировна, Жолобов Александр Алексеевич

МПК: G02B 21/00

Метки: микроскоп, инструментальный

Текст:

...с изменяемым цветом свечения. Дополнительная светодиодная подсветка бокового освещения с изменяемым цветом свечения имеет возможность изменять угол падения света на объект от 5 до 180. Дополнительная светодиодная подсветка бокового освещения с изменяемым цветом свечения снабжена быстросъемным креплением, что позволяет устанавливать ее для освещения объекта исследования снизу через проем в измерительном столе. Дополнительная светодиодная...