G01J 4/00 — Измерение поляризации света

Способ тестирования оптического компенсатора

Загрузка...

Номер патента: 17151

Опубликовано: 30.06.2013

Автор: Меркулов Владимир Сергеевич

МПК: G01J 4/00, G01N 21/21

Метки: способ, оптического, компенсатора, тестирования

Текст:

...фаз исследуемого компенсатора ближе к /2, чем у калиброванного. В результате чего возникают систематические погрешности. Для минимизации погрешностей проводят четыре серии (зоны) измерений азимутов поляризатора и анализатора при различных ориентациях калиброванного компенсатора. Задачей настоящего изобретения является обеспечение измерений сдвига фаз и отношения коэффициентов пропускания главных волн тестируемого компенсатора при отсутствии...

Устройство для измерения характеристик излучения оптических излучающих приборов

Загрузка...

Номер патента: U 7393

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Ракуш Владимир Валентинович, Михайлов Юрий Тимофеевич, Корнилович Ирина Викторовна

МПК: G01J 4/00, G01J 3/00, G01J 1/00...

Метки: измерения, характеристик, излучения, оптических, излучающих, приборов, устройство

Текст:

...На фиг. 4 представлена схема в разрезе в горизонтальной плоскости индексирующего механизма. Устройство содержит (фиг. 1) измерительный прибор 1 с приемником 2 излучения и револьверную головку 3 для смены оптических излучающих приборов, имеющую индексирующий механизм (фиг. 4). Револьверная головка 3 (фиг. 1) содержит каркас 4, верхнее кольцо 5 с выемками 6(фиг. 1, 4), нижнее кольцо 7 и шарики 8, стойку 9, пружину 10, толкатель 11,...

Устройство определения поляризационных параметров излучения полупроводникового лазера

Загрузка...

Номер патента: 10017

Опубликовано: 30.12.2007

Авторы: Колесников Вячеслав Михайлович, Буйкевич Александр Георгиевич, Манак Иван Степанович

МПК: G01J 4/00

Метки: параметров, определения, поляризационных, полупроводникового, излучения, устройство, лазера

Текст:

...1 показана общая схема устройства измерения поляризационных характеристик излучения полупроводникового лазера. Излучение полупроводникового лазера 1 передается объективом-анаморфотом 2, исправляющим астигматизм в структуре исходного пучка излучения, в коллиматорный объектив 3,расширяющий и коллимирующий излучение до размеров, позволяющих обеспечить устойчивую работу поляризационного блока 4, особенностью которого является то, что в...

Способ определения матриц Мюллера недеполяризующих оптических систем с зависящим от поляризации коэффициентом пропускания

Загрузка...

Номер патента: 4518

Опубликовано: 30.06.2002

Автор: Ламекин Петр Иванович

МПК: G01J 4/00

Метки: систем, оптических, коэффициентом, недеполяризующих, поляризации, определения, мюллера, матриц, способ, зависящим, пропускания

Текст:

...Мюллера деполяризующих оптических систем в общем случае являются независимыми и поэтому их определение всегда связано с решением системы из шестнадцати линейных уравнений, что и реализуется в рамках известных способов. Известно также (первое упоминание в Уап де Ниш Н.С. 1.1311 Зсапеппг Ьу 5 ша 11 Раптс 1 ез. - тау Меч Уогк, 1957. Спар 5 русский перевод Г. Ван де Хюлст. Рассеяние света малыми частицами. М. 1961. 536 с. (см. стр. 60, что...