G01B 11/06 — для измерения толщины

Устройство для измерения толщины оптической детали

Загрузка...

Номер патента: U 9392

Опубликовано: 30.08.2013

Автор: Яничкин Валентин Викторович

МПК: G01B 11/06

Метки: толщины, устройство, измерения, оптической, детали

Текст:

...отличия светоделитель и объектив выполнены в виде одного или нескольких голограммных элементов, периферийная часть которых выполнена в виде голограммной линзы, зарегистрированной, например, при интерференции расходящейся и сходящейся волн и формирующей сходящийся пучок лучей, а центральная часть выполнена в виде дифракционной решетки, зарегистрированной,например, при интерференции двух плоских волн и установленной в фокусе отраженного от...

Интерферометрическое измерительное устройство

Загрузка...

Номер патента: U 8490

Опубликовано: 30.08.2012

Авторы: Михайлов Юрий Тимофеевич, Ермолович Жанна Федоровна, Ракуш Владимир Валентинович, Прудникова Татьяна Петровна

МПК: G01B 9/02, G01B 11/06

Метки: интерферометрическое, измерительное, устройство

Текст:

...6, отражатель 7 с отверстием 8, рассеивающий элемент 9 с отверстием 10. Двухлучевой интерферометр 1 выполнен по схеме Майкельсона и включает светоделитель 11 в виде плоского полупрозрачного зеркала и два плоских отражающих зеркала 12 и 13, расположенных под прямым углом друг к другу и примерно симметрично относительно светоделителя 11. Зеркало 12 закреплено неподвижно, а зеркало 13 установлено на микрометрическом винте 14 с возможностью...

Способ определения толщины слоя полимера на подложке

Загрузка...

Номер патента: 14575

Опубликовано: 30.06.2011

Авторы: Третинников Олег Николаевич, Никоненко Наталия Анатольевна

МПК: G01B 11/06

Метки: полимера, толщины, способ, подложке, определения, слоя

Текст:

...собой ПЭТ-подложку с нанесенным на нее тонким слоем ПС. Для 2 14575 1 2011.06.30 наглядности спектры смещены друг относительно друга по оси ординат. Звездочкойотмечены полосы поглощения ПЭТ-подложки. Предлагаемый способ состоит в следующем. Интенсивность полосы поглощения образца в его ИК-спектре НПВО описывается соотношением 521 где 0 - амплитуда падающего света- угол отражения 212/1 - отношение показателей преломления образца и...

Устройство для интерферометрического контроля толщины тонких покрытий оптических элементов

Загрузка...

Номер патента: U 7258

Опубликовано: 30.04.2011

Авторы: Горбач Елена Анатольевна, Васильев Руслан Юрьевич, Ропот Петр Иосифович, Ропот Алексей Петрович, Шепелевич Василий Васильевич

МПК: G01B 11/06

Метки: оптических, покрытий, устройство, толщины, интерферометрического, тонких, контроля, элементов

Текст:

...крайне сложно. Влияние вибраций можно существенно снизить, выполнив ряд условий. Для этого в первую очередь следует подобрать период интерференционной картины , намного больший средней амплитуды вибраций производственных машин (А), т.е. . Далее, для устранения влияния низкочастотной составляющей при регистрации интерференционной картиныкамерой следует выбрать малое время экспозиции , так чтобы 1/, где- частота основной высокочастотной...

Устройство для бесконтактного измерения толщины пластин

Загрузка...

Номер патента: U 3298

Опубликовано: 28.02.2007

Авторы: Корнелюк Александр Иванович, Самохвалов Валерий Константинович, Чухлиб Владимир Иванович

МПК: G01B 11/06

Метки: измерения, бесконтактного, устройство, толщины, пластин

Текст:

...и повышение точности измерений толщины при наличии шероховатых поверхностей измеряемых пластин.Поставленная задача достигается тем, что устройство для бесконтактного измерения толщины пластин выполнено в виде двух идентичных детектирующих головок, подключенных к электронному блоку и расположенных по обе стороны измеряемой пластины,закрепленной в держателе, каждая из которых содержит первый объектив, оптически связанный системой зеркал с...

Способ определения оптических параметров тонких пленок и устройство для его осуществления

Загрузка...

Номер патента: 8787

Опубликовано: 30.12.2006

Авторы: Романенко Алексей Андреевич, Глазунов Евгений Валерьевич, Хомченко Александр Васильевич, Сотский Борис Александрович, Костюченко Дмитрий Николаевич, Примак Игорь Ульянович, Лебединский Юрий Анатольевич, Пехтерев Александр Владимирович

МПК: G01N 21/01, G01B 11/06, G01N 21/55...

Метки: тонких, устройство, оптических, осуществления, пленок, параметров, определения, способ

Текст:

...пр. Откуда находят показатель преломления п и коэффициент поглощения 1 пленки (п п 11), при этом бп / п 0,02, б 1/1 0,0113.Недостатком известного устройства является то, что измерения связаны с проведением дополнительных измерений на различных призмах. Нахождение угла уо при определенной величине зазора между призмой и пленкой (1 также вызывает затруднения, т.к. необходимо вести сканирование по углу у и в то же время измерять...

Способ определения толщины полимерного покрытия на резино-технических изделиях

Загрузка...

Номер патента: 5594

Опубликовано: 30.12.2003

Авторы: Егоров Александр Иванович, Рогачев Александр Владимирович, Щебров Александр Владимирович, Саркисов Олег Армаисович, Казаченко Виктор Павлович

МПК: G01B 11/06

Метки: толщины, изделиях, резино-технических, определения, покрытия, полимерного, способ

Текст:

...равномерности нанесения покрытия на различных участках поверхности эластомера. Способ определения толщины полимерного покрытия на резинотехнических изделиях включает в себя измерение значения, зависящего от толщины покрытия характерного параметра, - краевого угла смачивания жидкостью (дистиллированной водой или глицерином) поверхности и определение толщины покрытия по известной корреляционной зависимости. На поверхность исследуемого покрытия с...